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• 原理：利用X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象，通過(guò)分析衍射圖譜中的峰強(qiáng)度和面積，計(jì)算結(jié)晶度。晶體部分會(huì)產(chǎn)生尖銳的衍射峰，而非晶部分則形成寬泛的漫散射背景。結(jié)晶度可通過(guò)結(jié)晶峰面積與總衍射面積的比值確定。
• 步驟：
  • 制備樣品（粉末或薄膜），確保表面平整。
  • 使用X射線衍射儀對(duì)樣品進(jìn)行掃描，獲取衍射圖譜。
  • 分離結(jié)晶峰和非晶散射背景，計(jì)算結(jié)晶峰面積。
  • 結(jié)晶度 = （結(jié)晶峰面積 / 總衍射面積）× 100%。
    
• 應(yīng)用：廣泛用于金屬、陶瓷、高分子材料等結(jié)晶度的測(cè)定。
• 優(yōu)勢(shì)：非破壞性、高精度，可提供晶體結(jié)構(gòu)信息。
• 局限：設(shè)備昂貴，操作復(fù)雜，對(duì)樣品制備要求高。
  
  

• 原理：利用原子核在磁場(chǎng)中的共振現(xiàn)象，通過(guò)分析共振信號(hào)的強(qiáng)度和線寬，區(qū)分結(jié)晶和非晶區(qū)域。結(jié)晶區(qū)域原子排列有序，共振信號(hào)尖銳；非晶區(qū)域原子排列無(wú)序，共振信號(hào)寬泛。
• 步驟：
  • 將樣品置于強(qiáng)磁場(chǎng)中，施加射頻脈沖激發(fā)原子核共振。
  • 記錄共振信號(hào)，分析信號(hào)強(qiáng)度和線寬。
  • 結(jié)晶度 = （結(jié)晶區(qū)域信號(hào)強(qiáng)度 / 總信號(hào)強(qiáng)度）× 100%。
    
• 應(yīng)用：適用于高分子材料、生物大分子等結(jié)晶度的測(cè)定。
• 優(yōu)勢(shì)：非破壞性、可提供分子動(dòng)力學(xué)信息。
• 局限：對(duì)樣品純度要求高，解析復(fù)雜。
  
  

• 原理：利用分子振動(dòng)對(duì)紅外光的吸收特性，通過(guò)分析吸收峰的強(qiáng)度和位置，區(qū)分結(jié)晶和非晶區(qū)域。結(jié)晶區(qū)域分子排列有序，吸收峰尖銳；非晶區(qū)域分子排列無(wú)序，吸收峰寬泛。
• 步驟：
  • 制備樣品（薄膜或粉末），確保表面平整。
  • 使用紅外光譜儀對(duì)樣品進(jìn)行掃描，獲取吸收光譜。
  • 分析吸收峰的強(qiáng)度和位置，計(jì)算結(jié)晶度。
    
• 應(yīng)用：適用于高分子材料、無(wú)機(jī)非金屬材料等結(jié)晶度的測(cè)定。
• 優(yōu)勢(shì)：操作簡(jiǎn)便、快速。
• 局限：精度較低，易受樣品表面狀態(tài)影響。
  
  

• 原理：結(jié)晶材料的密度通常高于非晶材料。通過(guò)測(cè)量樣品的實(shí)際密度和理論結(jié)晶密度，計(jì)算結(jié)晶度。
• 步驟：
  • 使用密度測(cè)量?jī)x（如比重瓶法、氣體置換法）測(cè)量樣品的實(shí)際密度（ρ）。
  • 查閱文獻(xiàn)或通過(guò)XRD計(jì)算樣品的理論結(jié)晶密度（ρ?）。
  • 結(jié)晶度 = （ρ / ρ?）× 100%。
    
• 應(yīng)用：適用于金屬、陶瓷等密度差異明顯的材料。
• 優(yōu)勢(shì)：操作簡(jiǎn)便、成本低。
• 局限：精度受密度測(cè)量誤差影響，不適用于密度差異小的材料。
  
  

• 原理：結(jié)晶材料和非晶材料在特定溶劑中的溶解性不同。通過(guò)選擇性溶解非晶部分，計(jì)算剩余結(jié)晶部分的質(zhì)量比例。
• 步驟：
  • 稱取一定質(zhì)量的樣品（m?）。
  • 將樣品置于特定溶劑中，攪拌至非晶部分完全溶解。
  • 過(guò)濾、干燥剩余結(jié)晶部分，稱取質(zhì)量（m?）。
  • 結(jié)晶度 = （m? / m?）× 100%。
    
• 應(yīng)用：適用于高分子材料、部分無(wú)機(jī)材料等。
• 優(yōu)勢(shì)：直接、直觀。
• 局限：溶劑選擇困難，可能破壞結(jié)晶結(jié)構(gòu)，操作耗時(shí)。